Malagoli A., Putti M., Manfrinetti P., Palenzona A., Bernini C., Pani M., Palombo M.
Ключевые слова: chalcogenide, tapes, PIT process, fabrication, sheath, comparison, microstructure, heat treatment, resistive transition, critical caracteristics, current-voltage characteristics
J Applied Physics, 2015, v.117, N 21, p.213903
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
Putti M., Palenzona A., Pallecchi I., Tropeano M., Lamura G., Pani M., Palombo M.
Ключевые слова: upper critical fields, critical caracteristics, critical current density, oxypnictides, comparison, grain boundaries, films, single crystals, wires
Physica C, 2012, v.482, N 1, p.68-73
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.